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              濟南納克試驗設備有限公司

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              引伸計標點儀

              引伸計標點儀
              • 技術參數

                GWB200JA型引伸計標定儀,是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG76292引伸計檢定規程要求,專門用于對各類引伸計的標定,也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。

                 

                結構特點及讀數方式

                1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合,同時配有加長立柱附件,配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣,可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要,配置專用配件進行精密微變形量計量。

                2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內

                筒、讀數外筒及高精密螺紋付組成。其最大量程25㎜;

                最小分度(游標分度)0.0002㎜;旋轉外筒分度0.002㎜。

                位移變化讀數為:

                L=a+0.001b+0.0001c-(a0+0.001b0+0.001c0)

                其中:a-內筒毫米刻線讀數

                b-外筒刻線讀數

                c-游標刻線讀數

                a0 b0 c0 為相應位移變化前讀數

                 

                 

                精密微分筒

                 

                二、各項技術精度指標

                1、測量引伸計標距范圍Lmax           500

                2、測量支座上支臂安裝孔徑        φ10;φ28

                3、微分測頭讀數內筒軸向刻度       0.5/

                4、微分測頭讀數內筒游標刻度    0.0002/

                5、微分測頭讀數外筒園周刻度     0.002/

                6、高精密微分測頭精度指標

                標定儀示值誤差:

                量程0.5㎜以內≤0.5μm    絕對誤差

                量程0.5㎜以上≤0.10%     逐點相對誤差

                參照標準:

                JJF1096-2002 引伸計標定器校準規范

                ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定

                JJG762-1992  引伸計檢定規程

                可進行0.5級引伸計的標定

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